Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀

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Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀產品介紹：

Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數(shù)十種預定義的極性，矩形或線性測量坐標圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設置，任何具有基本計算機技能的人都可以使用。

Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀產品特點優(yōu)勢：

自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)，快速定位、實時獲得結果；
可測樣品膜層：基本上所有光滑的。非金屬的薄膜都可以測量；
測繪結果可用2D或3D呈現(xiàn)，方便用戶從不同的角度檢視；

Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀測量原理：

當入射光穿透不同物質的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

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Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀工業(yè)應用：

半導體膜層	顯示技術	消費電子	派瑞林
光刻膠	OLED	防水涂層	電子產品/電路板
介電層	ITO和TCOs	射頻識別	磁性材料
砷化鎵	空氣盒厚	太陽能電池	醫(yī)學器械
微機電系統(tǒng)	PVD和CVD	鋁制外殼陽極膜	硅橡膠

Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀參數(shù)：

波長范圍：	190nm-1700nm	光源：	鎢鹵素燈、氘燈
測量nk值厚度要求*：	50nm	測量精度2：	0.02nm
準確度*：取較大者	1nm或0.2%	穩(wěn)定性3：	0.05nm
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取