-
白光干涉技術精準表征電介質薄膜厚度與光學常數(shù)
優(yōu)尼康科技提供白光干涉測量解決方案，使用Filmetrics F20-UVX膜厚儀精準測量二氧化硅/氮化硅等電介質薄膜的厚度、折射率與消光系數(shù)，解決非化學計量比薄膜測量難題，助力半導體與光學行業(yè)研發(fā)與質控。
2025-11-07 admin查看詳情 -
種子包衣測量方案- filmetrics F3-s1310 膜厚測量儀
所謂種子包衣是采取機械或手工方法，按一定比例將含有殺蟲劑、殺菌劑、復合肥料、微量元素、植物生長調節(jié)劑、緩釋劑和成膜劑等多種成分的種衣劑均勻包覆在種子表面，形成一層光滑、牢固的藥膜。
2023-06-08 admin查看詳情 -
-
白光干涉測量電介質薄膜
成千上萬的電解質薄膜被用于光學，半導體，以及其他行業(yè), 而Filmetrics的儀器可以測量薄膜。常見的電介質有:二氧化硅 – 簡單的材料之一, 主要是因為它在大部分光譜上的無吸收性 (k=0)， 而且非常接近化學計量 (就是說，硅：氧非常接近 1:2)。 受熱生長的二氧化硅對光譜反應規(guī)范，通常被用來做厚度和折射率標準。 Filmetrics能測量3nm到1mm的二氧化硅厚度。
2023-06-08 admin查看詳情
