-
![Filmetrics膜厚儀 車燈行業(yè)解決方案]()
-
![白光干涉測量電介質(zhì)薄膜]()
白光干涉測量電介質(zhì)薄膜
成千上萬的電解質(zhì)薄膜被用于光學(xué)，半導(dǎo)體，以及其他行業(yè), 而Filmetrics的儀器可以測量薄膜。常見的電介質(zhì)有:二氧化硅 – 簡單的材料之一, 主要是因為它在大部分光譜上的無吸收性 (k=0)， 而且非常接近化學(xué)計量 (就是說，硅：氧非常接近 1:2)。 受熱生長的二氧化硅對光譜反應(yīng)規(guī)范，通常被用來做厚度和折射率標準。 Filmetrics能測量3nm到1mm的二氧化硅厚度。
2023-06-08 admin查看詳情
