Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x

圖片關(guān)鍵詞

Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x產(chǎn)品介紹：

Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x依靠光譜測(cè)量系統(tǒng)，可以簡(jiǎn)單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，可以快速的定位所需測(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度，測(cè)試非常快速，大約每秒能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x配置精度高使用壽命長(zhǎng)的移動(dòng)平臺(tái)，以求能夠做成千上萬(wàn)次測(cè)量。

Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

自動(dòng)化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)，快速定位、實(shí)時(shí)獲得結(jié)果；
可測(cè)樣品膜層：基本上光滑的。非金屬的薄膜都可以測(cè)量；
測(cè)繪結(jié)果可用2D或3D呈現(xiàn)，方便用戶從不同的角度檢視；

Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)量原理：

當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部分的光被反射，由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長(zhǎng)光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時(shí)也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

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Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x常見(jiàn)工業(yè)應(yīng)用：

半導(dǎo)體膜層	顯示技術(shù)	消費(fèi)電子	派瑞林
光刻膠	OLED	防水涂層	電子產(chǎn)品/電路板
介電層	ITO和TCOs	射頻識(shí)別	磁性材料
砷化鎵	空氣盒厚	太陽(yáng)能電池	醫(yī)學(xué)器械
微機(jī)電系統(tǒng)	PVD和CVD	鋁制外殼陽(yáng)極膜	硅橡膠

Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量?jī)x產(chǎn)品參數(shù)：

波長(zhǎng)范圍：	190nm-1340nm	光源：	鎢鹵素?zé)簟㈦疅?/span>
厚度測(cè)量范圍：	5nm-2mm	測(cè)量精度：	0.02nm
光斑大?。?/span>	標(biāo)準(zhǔn)1.5毫米	樣品臺(tái)尺寸：	1-300mm
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