Filmetrics F20膜厚儀是一款兼具優(yōu)異性價比與出色便攜性的單點測量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料研發(fā)及質(zhì)量控制領(lǐng)域。其操作簡便、測量快速，為各類薄膜厚度檢測需求提供了經(jīng)濟可靠的解決方案。
無論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?；谀K化設(shè)計的特點，Filmetrics F20 單點便攜式膜厚儀適用于各種應(yīng)用。
非接觸測量：避免損傷薄膜，適用于脆弱或敏感材料；
高精度與寬量程：垂直分辨率達(dá)納米級，可測厚度范圍從1nm至3mm；
多場景適用性：基本上光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。
測量速度快：配置完成后，數(shù)秒內(nèi)即可完成測量。
當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導(dǎo)致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。
薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光學(xué)常數(shù)、均勻性、刻蝕量等
薄膜種類：透明及半透明薄膜，常見如氧化物、聚合物甚至空氣
薄膜狀態(tài)：固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測量
薄膜結(jié)構(gòu)：單層膜、多層膜；平面、曲面
半導(dǎo)體膜層 | 顯示技術(shù) | 消費電子 | 派瑞林 |
光刻膠 | OLED | 防水涂層 | 電子產(chǎn)品/電路板 |
介電層 | ITO和TCOs | 射頻識別 | 磁性材料 |
砷化鎵 | 空氣盒厚 | 太陽能電池 | 醫(yī)學(xué)器械 |
微機電系統(tǒng) | PVD和CVD | 鋁制外殼陽極膜 | 硅橡膠 |
波長范圍： | 380-1050nm | 光源： | 鹵素?zé)?/span> |
厚度測量范圍： | 15nm-70um | 測量精度： | 0.02nm |
光斑大?。?/span> | 1.5mm | 樣品臺尺寸： | 1mm-300mm |
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