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KLA D600 探針式表面輪廓儀

KLA D600 探針式表面輪廓儀包括一個200mm自動樣品載臺和具有增強(qiáng)圖像控制的光學(xué)器件。Alpha-Step輪廓儀體積小巧,專為高校、實(shí)驗(yàn)室和研究所設(shè)計(jì),可為半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體器件、LED、太陽能、MEMS、汽車和醫(yī)療行業(yè)提供臺階高度、粗糙度和應(yīng)力測量

  • 產(chǎn)品名稱 探針式表面輪廓儀
  • 品牌 KLA
  • 產(chǎn)品型號 D-600
  • 產(chǎn)地 美國


KLA D600 探針式表面輪廓儀



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KLA D600 探針式表面輪廓儀產(chǎn)品介紹:

KLA D600 探針式表面輪廓儀采用光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準(zhǔn)確的微力控制。探針的接觸式測量技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是直接測量,與材料特性無關(guān)。多種力度調(diào)節(jié)和探針尺寸選擇可以讓機(jī)臺對各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行準(zhǔn)確測量。這些功能可以表征因添加或移除材料而引起的形貌特征改變,以及測量由材料結(jié)構(gòu)改變引起的粗糙度和應(yīng)力變化。

KLA D600 探針式表面輪廓儀包括一個200mm自動樣品載臺和具有增強(qiáng)圖像控制的光學(xué)器件。Alpha-Step輪廓儀體積小巧,專為高校、實(shí)驗(yàn)室和研究所設(shè)計(jì),可為半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體器件、LED、太陽能、MEMS、汽車和醫(yī)療行業(yè)提供臺階高度、粗糙度和應(yīng)力測量。



KLA D600 探針式表面輪廓儀產(chǎn)品特點(diǎn):

  • 500萬像素高分辨率彩色相機(jī)

  • 平整的掃描平臺

  • 用于測量可視化的側(cè)視視圖

  • 從0.03到15毫克的力控制范圍

  • Z向掃描范圍可達(dá)1.2mm

  • 200毫米手動XY樣品臺

  • 符合CE標(biāo)準(zhǔn)



KLA D600 探針式表面輪廓儀產(chǎn)品優(yōu)勢:

  • 在重復(fù)性和再現(xiàn)性上具有良好表現(xiàn)

  • 接觸式測量,適用于多種材料

  • 測量軟材料的微力控制

  • 梯形失真校正可消除側(cè)視圖造成的失真

  • 弧形校正補(bǔ)償探針的弧形運(yùn)動



KLA D600 探針式表面輪廓儀產(chǎn)品測量原理:

KLA D600 探針式表面輪廓儀采用了光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)。光學(xué)杠桿傳感器利用轉(zhuǎn)軸組件上表面反射的激光束跟蹤表面形貌。反射的光束隨后投射到光電探測器上。對于 Alpha-Step,光束被分成兩部分:一邊投射到雙電池光電探測器上,另一邊投射到單電池光電探測器上 。這種設(shè)計(jì)可以在第一個探測器上對較小的步長進(jìn)行高分辨率測量,而在第二個探測器上對較大的步長進(jìn)行測量。激光束的偏轉(zhuǎn)在測探針蹤表面時(shí)發(fā)生變化,同時(shí)被光電探測器感應(yīng)到,然后將這種偏轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)換為形貌信號。光學(xué)杠桿的優(yōu)勢在于整個組件的質(zhì)量小,可以進(jìn)行低力測量。此外,該傳感器響應(yīng)速度快,可跟蹤表面形貌的變化。


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KLA D600 探針式表面輪廓儀主要應(yīng)用:

2D表面形貌掃描

3D表面形貌掃描

粗糙度和波紋度測量

樣品翹曲和曲率半徑測量

薄膜應(yīng)力測量(Stoney方程)

從納米級到1.2毫米的臺階高度測量



KLA D600 探針式表面輪廓儀行業(yè)應(yīng)用:

高校和實(shí)驗(yàn)室

KLA D600 探針式表面輪廓儀是任何高校、研究機(jī)構(gòu)或?qū)嶒?yàn)室的重要研究工具。該系統(tǒng)能夠進(jìn)行接觸式的直接測量,結(jié)果與材料性質(zhì)無關(guān)。研究人員能夠測量任何透明或不透明材料的沉積厚度。Alpha-Step輪廓儀操作簡便,簡單培訓(xùn)即可讓用戶快速掌握和使用。

二次離子質(zhì)譜(SIMS)產(chǎn)生的凹陷

準(zhǔn)確測量二次離子質(zhì)譜(SIMS)所產(chǎn)生的凹陷的深度,以確定離子濃度和凹陷深度的關(guān)系。測量凹陷底面的粗糙度,以表征離子束能量的均勻性。

試驗(yàn)性生產(chǎn)

Alpha-Step探針式輪廓儀是小批量試驗(yàn)性生產(chǎn)的理想選擇。操作員可以在樣品的多個位置快速聚焦和測量,以反映樣品表面的工藝變化。Alpha-Step輪廓儀的軟件還支持操作員、系統(tǒng)和批次信息的追蹤,以方便生產(chǎn)中的統(tǒng)計(jì)過程控制。

常規(guī)應(yīng)用

Alpha-Step探針式輪廓儀被廣泛用于生產(chǎn)或研發(fā)。例如測量紡織品安全特征和與紡織品吸光率相關(guān)的粗糙度,還有消費(fèi)電子產(chǎn)品的應(yīng)用,包括測量觸摸屏形貌和玻璃屏幕上的薄膜臺階高度。

半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體

測量在半導(dǎo)體前段、后段和封裝工藝中的表面形貌,包括測量光刻膠厚度、蝕刻深度、濺射高度、CMP前后形貌、粗糙度、樣品翹曲和應(yīng)力,以改進(jìn)生產(chǎn)工藝控制。


KLA D600 探針式表面輪廓儀產(chǎn)品參數(shù):

重復(fù)性:

5?(0.10%)

垂直分辨率:

0.38A

垂直范圍:

1200μm

針壓范圍:

0.03~15mg

橫向分辨率:

2D:0.1μm

3D:1μm

最大掃描長度:

2D:30mm

3D:55mm*120mm

Theta舞臺(手動):

360°

掃描速度:

10~400μm/s

樣品厚度:

30mm

采樣率:

60~2000Hz

樣品臺直徑:

80mm和20mm

XY運(yùn)動范圍(自動):

150mm和178mm



KLA D600 探針式表面輪廓儀測量圖:

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標(biāo)簽: KLA 探針臺階儀

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