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探針式臺(tái)階儀的功能及應(yīng)用
探針式輪廓儀（臺(tái)階儀）主要用于材料的結(jié)構(gòu)及表面解析，在微電子、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、高亮度LED、觸摸屏、醫(yī)療、科學(xué)研究和材料科學(xué)領(lǐng)域。
同時(shí)按照應(yīng)用的領(lǐng)域不同，要求不同，臺(tái)階儀的型號(hào)也多種多樣，下面以我們優(yōu)尼康提供的一款型號(hào)為P-17的臺(tái)階儀為例，簡(jiǎn)單介紹下這款儀器的功能以及應(yīng)用，以供大家參考了解臺(tái)階儀可以做什么，有哪些功能，該型號(hào)為常用款，如有更高需求也可以咨詢我們，會(huì)為大家推薦更合適的機(jī)臺(tái)。
主要功能有：
·臺(tái)階高度：幾納米至1000μm
·微力恒力控制：0.03至50mg
·樣品全直徑掃描，無(wú)需圖像拼接
·視頻：500萬(wàn)像素高分辨率彩色攝像機(jī)
·圓弧校正：消除由于探針的弧形運(yùn)動(dòng)引起的誤差
·軟件：簡(jiǎn)單易用的軟件界面
·生產(chǎn)能力：通過(guò)測(cè)序、圖案識(shí)別和SECS/GEM實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化
主要應(yīng)用：
·臺(tái)階高度：2D和3D臺(tái)階高度
·紋理：2D和3D粗糙度和波紋度
·形狀：2D和3D翹曲和形狀
·應(yīng)力：2D和3D薄膜應(yīng)力
·缺陷復(fù)檢：2D和3D缺陷表面形貌
工業(yè)應(yīng)用:
·大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所
·半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體
·LED：發(fā)光二極管
·太陽(yáng)能
·MEMS：微機(jī)電系統(tǒng)
·數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
·汽車
·醫(yī)療設(shè)備
·還有更多，請(qǐng)與我們聯(lián)系以滿足您的要求
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