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- / 第四代半導體會議圓滿落幕
第四代半導體技術(shù)研討會于5月16日在杭州寶盛水博園大酒店圓滿結(jié)束。此次會議聚焦氧化鎵、金剛石、氮化鋁三大核心材料展開廣泛地交流與探討，共同推動第四代半導體材料和相關(guān)器件的技術(shù)突破和產(chǎn)業(yè)化進程。
優(yōu)尼康攜Filmetrics F20光學膜厚測量儀、FS-RT300 多波長橢偏儀前來參展，現(xiàn)場觀展氛圍火熱，有不少了解膜厚儀與橢偏儀的客戶前來主動交流探討薄膜測量。
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