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- / 5月會(huì)議預(yù)告｜誠邀您參加成都表界面、杭州半導(dǎo)體會(huì)議，我們現(xiàn)場見！
成都
表界面科學(xué)跨越物質(zhì)、能源和信息等眾多基礎(chǔ)學(xué)科，是催化、超導(dǎo)和芯片等國家重大戰(zhàn)略需求的共性科學(xué)基礎(chǔ)。全面展示我國表界面相關(guān)領(lǐng)域的最新研究進(jìn)展，推動(dòng)學(xué)科發(fā)展，為我國新質(zhì)生產(chǎn)力的發(fā)展做出貢獻(xiàn)。由中國化學(xué)會(huì)物理化學(xué)學(xué)科委員會(huì)主辦，北京大學(xué)納米器件物理與化學(xué)教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室承辦。
本次為付費(fèi)會(huì)議，掃碼獲取詳細(xì)信息
誠邀各位蒞臨優(yōu)尼康展位B64,探討表面測量的種種應(yīng)用。
杭州
目前，第三代半導(dǎo)體材料（例如碳化硅、氮化鎵等）已經(jīng)深入發(fā)展并得到廣泛應(yīng)用，而以氧化鎵、金剛石和氮化鋁等為代表的第四代半導(dǎo)體材料也在逐步嶄露頭角，呈現(xiàn)蓬勃發(fā)展態(tài)勢。為促進(jìn)全國范圍內(nèi)第四代半導(dǎo)體學(xué)術(shù)、技術(shù)的交流合作和產(chǎn)業(yè)發(fā)展，在浙江省杭州市共同組織召開2025年第四代半導(dǎo)體技術(shù)研討會(huì)。
本次為付費(fèi)會(huì)議，掃碼獲取詳細(xì)信息
參展設(shè)備
 F50 膜厚測量儀 | ||
F50可以非常簡單地獲得最大直徑450毫米的樣品薄膜厚度分布圖。采用r-θ 極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，可以快速定位所需的測試點(diǎn)并且實(shí)時(shí)獲得測試厚度，大約每秒測試兩點(diǎn)。 | ||
相關(guān)應(yīng)用：半導(dǎo)體制造（光刻膠、氧化物/氮化物/SOI、晶圓背面研磨）；LCD 液晶顯示器（聚酰亞胺、ITO 透明導(dǎo)電膜）；光學(xué)鍍膜（硬涂層、抗反射層）；MEMS 微機(jī)電系統(tǒng)（光刻膠、硅系膜層）。 |
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Filmetrics F20 膜厚測量儀 | ||
您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?；谀衬K化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用。 | ||
相關(guān)應(yīng)用：光刻膠、工藝薄膜、介電材料、硬涂層、Parylene、抗反射層、醫(yī)療設(shè)備、OLED、玻璃厚度、ITO與其他TCO。 |
優(yōu)尼康公眾號(hào)
售后服務(wù)支持
