薄膜厚度和表面測量先進技術研討會

2023-06-09 14:48:46 李揚

會議概況

2019年5月22日，為了促進測量技術行業(yè)的需求，優(yōu)尼康科技和清華大學電子工程系聯(lián)合舉辦的薄膜厚度和表面測量先進技術研討會，于清華大學羅姆樓如期舉行。

專家精彩的報告

該次邀請了清華大學，北京大學，北京理工大學的專家作為演講嘉賓，分別與我們分享了On-line 膜厚監(jiān)控在超精密切削加工中的應用、可集成自由電子輻射器件的研究、The Research Progresses in 21’ Wafers HVPE System and GaN Single-crystal Substrates。另外還邀請了設備供應商KLA-Tencor公司的幾位博士為我們帶來精彩的分享演講。分享的主題分別為：KLA Profiler products introduction and its applications、Advances in Spectral Reflectance Measurement and Cloud-Based 3D Analysis、Nano Indenter G200 and its applications、ZETA Multi-mode optical profiler introduction and applications。

研討&展示相得益彰

該研討會，除了聆聽專家分享演講外，受邀參會的高校、科研院所、高科技企業(yè)的人員還可以在現(xiàn)場觀摩我司的產(chǎn)品、技術應用深入交流、現(xiàn)場測樣。其中不乏一些用戶就現(xiàn)場對產(chǎn)品表示的濃烈興趣。參加人員表示，此次活動受益匪淺。

現(xiàn)場精彩時刻

膜厚測量儀|光學輪廓儀|Filmetrics|薄膜厚度測量儀|粗糙度測量