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- / 精度領(lǐng)跑行業(yè),KLA 輪廓儀優(yōu)勢到底強在哪?
在半導(dǎo)體制造、新材料研發(fā)和精密光學(xué)加工等高端制造領(lǐng)域,材料的表面形貌直接決定了產(chǎn)品的最終性能。無論是微米級的臺階高度,還是納米級的表面粗糙度,都需要借助高精度的輪廓儀來進行“把脈”。在眾多測量設(shè)備中,KLA輪廓儀憑借其出色的性能,成為了許多研發(fā)與生產(chǎn)線上信賴的伙伴。那么,它的優(yōu)勢到底體現(xiàn)在哪些方面?今天,我們就來深入解析一下。
根據(jù)官方參數(shù),在PSI測量模式下,其RMS(均方根)重復(fù)性可達0.1nm,這達到了亞納米級別。這意味著它能夠分辨出比頭發(fā)絲直徑還小幾萬倍的微觀結(jié)構(gòu)。對于需要研究超光滑光學(xué)表面、MEMS微機電系統(tǒng)或半導(dǎo)體薄膜應(yīng)力的工程師來說,這樣的精度為獲取真實、可靠的表面數(shù)據(jù)提供了有力支持,幫助他們更好地分析和優(yōu)化工藝。

KLA輪廓儀采用的是白光干涉原理的非接觸式測量方式。光源發(fā)出的光經(jīng)過分光鏡后,分別照射到樣品表面和參考鏡,通過分析兩者反射光形成的干涉條紋來還原樣品表面形貌。這種方式從物理上杜絕了探針與樣品的直接接觸,實現(xiàn)了無損檢測。這一優(yōu)勢在測量半導(dǎo)體晶圓上的光刻膠圖形、手機屏幕的硬化涂層或者生物醫(yī)學(xué)樣本時尤為重要,能夠真實還原樣品的原始狀態(tài)。
Profilm3D的一個顯著優(yōu)勢在于其光學(xué)系統(tǒng)。僅用10倍物鏡,它就能提供高達2mm的視場范圍,這使得尋找目標(biāo)測量區(qū)域變得更加高效。同時,設(shè)備配備了4孔物鏡轉(zhuǎn)臺和最大4倍的光學(xué)變焦功能,用戶可以輕松切換不同倍率的物鏡,或通過變焦來調(diào)整觀察的精細度,無需為了不同視野而額外購買多套設(shè)備。這種靈活性在一定程度上降低了用戶的綜合采購成本,讓一臺設(shè)備能適配更多的應(yīng)用場景。
軟件能夠以直觀的2D或3D形式呈現(xiàn)測量結(jié)果,用戶可以輕松旋轉(zhuǎn)、縮放模型,從不同角度檢視樣品表面的紋理、缺陷或波紋度。對于需要大面積分析的應(yīng)用,還可以通過軟件升級獲得圖像拼接功能,將多個相鄰視場的影像組合起來,形成更大區(qū)域的完整高精度形貌圖,這對于分析晶圓翹曲或大尺寸光學(xué)元件的面形非常有幫助。